Microelectronics and reliability [Текст] = Микроэлектроника : An International Journal & World Abstracting Service. Vol. 20, № 3
Журнал: Microelectronics and reliability. — Oxford : Pergamon Press.Publication: Oxford : Pergamon Press, 1980Description: P. 169-391Language: англійська.Country: Велика Британія.Вид літератури за цільовим призначенням: Наукові Item type: Номер журналу
Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|
Номер журналу | Книгосховище відділу книгозберігання (KSHVKZ) Фонд відділу книгозберігання | M052814 (Browse shelf(Opens below)) | Available | M052814 |