Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках [Текст] / Вавилов Виктор Сергеевич, Кив Арик Ефимович, Ниязова Озод Рахимовна
Вихідні дані: М. : Наука, 1981Опис: 368 с.Мова: російська.Країна: СРСР.Форматний номер: 2 формат (висота > 17-23 см)Серія: Физика полупроводников и полупроводниковых приборовВид літератури за цільовим призначенням: НауковіУДК: 539.293УДК-теми: 539.29 Фізика металів, напівпровідників і діелектриків « 539.2 Властивості та структура молекулярних систем « 539 Фізична природа матерії « 53 Фiзика « 5 Математика. Природничi науки Тип одиниці:
Книга
| Тип одиниці зберігання | Поточна бібліотека | Шифр зберігання | Стан | Очікується на дату | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Книга
|
Книгосховище відділу книгозберігання (KSHVKZ) Фонд відділу книгозберігання | 01200684 (Огляд полиці(Відкривається нижче)) | Доступно | 01200684 |