Radiation defects in CaF2-CaO crystals [Текст] / Kachan S. I., Obukhova E. E., Chinkov E. P., Shtanko V. F.
Фізична одиниця: Oxide materials for electronic engineering - fabrication, properties and application ОМЕЕ-2009 : book of abstr. Intern. sci. workshop, June 22-26, 2009, Lviv, Ukraine. — 2009.Опис: P. 152Мова: англійська.Вид літератури за цільовим призначенням: НауковіНаявність бібліографії/покажчика: Bibliogr.: 1 title. Тип одиниці:

Фонди: Складова частина документа
Bibliogr.: 1 title.