Основы анализа поверхности и тонких пленок [Текст] / Фелдман Леонард, Майер Джеймс ; пер. с англ. В. А. Аркадьева ; под ред. В. В. Белошицкого
Publication: М. : Мир, 1989Description: 344 с. : ил.Language: російська.Country: СРСР.Форматний номер: 2 формат (висота > 17-23 см)ISBN: 5-03-001017-3 (русск.); 0-444-00989-2 (англ.).Вид літератури за цільовим призначенням: НауковіУДК: 539.23УДК-теми: 539.23 Одержання тонких плівок « 539.2 Властивості та структура молекулярних систем « 539 Фізична природа матерії « 53 Фiзика « 5 Математика. Природничi науки Item type:
Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Книгосховище відділу книгозберігання (KSHVKZ) Фонд відділу книгозберігання | 01289607 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 01289607 | ||
![]() |
Книгосховище відділу книгозберігання (KSHVKZ) Фонд відділу книгозберігання | 01289608 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 01289608 | ||
![]() |
Книгосховище відділу книгозберігання (KSHVKZ) Фонд відділу книгозберігання | 01290780 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 01290780 |