Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем [Текст] / Чернышев Александр Алексеевич
Вихідні дані: М. : Радио и связь, 1988Опис: 254, [1] с. : ил.Мова: російська.Країна: СРСР.Форматний номер: 2 формат (висота > 17-23 см)ISBN: 5-256-00042-X.Вид літератури за цільовим призначенням: НауковіУДК: 621.382.019.3 + 621.382.8.019.3Наявність бібліографії/покажчика: Библиогр.: с. 249-252 (87 назв.).УДК-теми: 621.382 Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи « 621.38 Електронiка. Електронні лампи. Фотоелектроніка. Рентгенотехніка. Прискорювачі елементарних частинок « 621.3 Електрика. Електротехнiка « 621 Загальне машинобудування. Ядерна технологiя. Електротехнiка. Машинобудування в цілому « 62 Машинобудування. Техніка в цілому « 6 Прикладнi науки. Медицина. Технологiя621.382.8 Молекулярна електроніка. Тверді схеми « 621.382 Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи « 621.38 Електронiка. Електронні лампи. Фотоелектроніка. Рентгенотехніка. Прискорювачі елементарних частинок « 621.3 Електрика. Електротехнiка « 621 Загальне машинобудування. Ядерна технологiя. Електротехнiка. Машинобудування в цілому « 62 Машинобудування. Техніка в цілому « 6 Прикладнi науки. Медицина. Технологiя Тип одиниці:
Книга
Цей запис містить велику кількість фізичних примірників (93). Переглянути усі фізичні одиниці.
Библиогр.: с. 249-252 (87 назв.)